XRD原位冷热台是一款X-射线衍射仪的变温测试附件，可实现样品变温测试的温度范围：-190~600°C / RT~1200°C支持在空气 / 惰性气体 / 真空的环境条件下进行测试。适合于粉末、片材样品在变温下进行X-射线结构研究，支持在现有各种X-射线衍射仪上定制样品架进行适配。
您好，欢迎访问合肥智拓电子产品有限公司
135-0054-1271
135-0054-1271
XRD衍射仪原位附件
XRD原位冷热台是一款X-射线衍射仪的变温测试附件，可实现样品变温测试的温度范围：-190~600°C / RT~1200°C支持在空气 / 惰性气体 / 真空的环境条件下进行测试。适合于粉末、片材样品在变温下进行X-射线结构研究，支持在现有各种X-射线衍射仪上定制样品架进行适配。
上一条 : X射线光电子能谱仪原位附件
下一条 : XRD衍射仪原位附件
2025-03-07
2025-03-07
2025-03-07
2025-03-07
2025-03-07
电子产品
ZHI TUO
手机站二维码
在线客服
